Логика - специальная логика - Интегральные схемы (ИС) - SN74SSTVF16859S8 SN74SSTVF16859G4R SN74SSTV16859DGGR SN74LVTH182504APM - ICCHIP

номер части	Производитель / Марка	Краткое описание	Статус детали	Тип логики	Напряжение питания	Количество бит	Рабочая Температура	Тип монтажа	Упаковка / чехол	Пакет устройств поставщика
SN74SSTVF16859S8	Texas Instruments	IC Regulators BUFFER 13-26BIT 56-VQFN	в производстве	Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR	2.3 V ~ 2.7 V	13, 26	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	56-VFQFN Exposed Pad	56-VQFN (8x8)
SN74SSTVF16859G4R	Texas Instruments	IC Regulators BUFF 26BIT SSTL 56-VQFN	в производстве	Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR	2.3 V ~ 2.7 V	13, 26	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	56-VFQFN Exposed Pad	56-VQFN (8x8)
SN74SSTV16859DGGR	Texas Instruments	IC Regulators BUFFER 13-26BIT 64-TSSOP	в производстве	Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR	2.3 V ~ 2.7 V	13, 26	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	64-TSSOP
SN74LVTH182504APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	20	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74GTLP22033DGGR	Texas Instruments	IC Regulators TXRX LVTTL-GTLP 48-TSSOP	в производстве	LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver	3.15 V ~ 3.45 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	48-TSSOP
SN74GTLP2033DGGR	Texas Instruments	IC Regulators XCVR LVTTL-GTLP 48-TSSOP	в производстве	LVTTL-TO-GTLP Adjustable-Edge-Rate Registered Transceiver	3.15 V ~ 3.45 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	48-TSSOP
SN74LVTH182512DGGR	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	64-TSSOP
SN74SSQEB32882ZALR	Texas Instruments	IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA	в производстве	1:2 Registered Buffer with Parity	1.25V, 1.35V, 1.5V	28, 56	-	SMD Поверхностный монтаж	176-TFBGA	176-NFBGA (13.5x8)
SN74SSQEA32882ZALR	Texas Instruments	IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA	в производстве	1:2 Registered Buffer with Parity	-	28, 56	0°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	176-TFBGA	176-NFBGA (13.5x8)
SN74SSQEC32882ZALR	Texas Instruments	IC REGSTR BUFF 28-56BIT 176NFBGA	в производстве	1:2 Registered Buffer with Parity	1.25V, 1.35V, 1.5V	28, 56	0°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	176-TFBGA	176-NFBGA (13.5x8)
SN74LVTH18504APMR	Texas Instruments	IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	20	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH18502APMR	Texas Instruments	IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH182502APMR	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
74SSTUB32866AZKER	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFF 25BIT 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74ABT8646DL	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP	в производстве	Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers	4.5 V ~ 5.5 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)	28-SSOP
SN74ABT8646DW	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC	в производстве	Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers	4.5 V ~ 5.5 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)	28-SOIC
SN74ABT18245ADLR	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP	в производстве	Scan Test Device with Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)	56-SSOP
SN74LVTH18502APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH182502APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH18504APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers	2.7 V ~ 3.6 V	20	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74ABT18245ADGGR	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP	в производстве	Scan Test Device with Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	56-TSSOP
SN74LVT8996PWR	Texas Instruments	IC 10-BIT SCAN PORT XCVR 24TSSOP	в производстве	Addressable Scan Ports	2.7 V ~ 3.6 V	10	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)	24-TSSOP
SN74SSTEB32866ZWLR	Texas Instruments	IC BUFF CONFIG Regulators 25BIT 96BGA	в производстве	Configurable Buffer with Address-Parity Test	1.425 V ~ 1.575 V	25	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA (13.6x5.6)
SN74SSTUB32866ZWLR	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFFER 25BIT 96BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA (13.6x5.6)
74SSTUB32864AZKER	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFF 25BIT 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74SSTUB32866ZKER	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFF 25BIT 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74SSTUB32864ZKER	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFF 25BIT 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74ABTE16246DGGR	Texas Instruments	IC INCIDENT-WAVE XCVR 48-TSSOP	в производстве	Incident-Wave Switching Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	11	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)	48-TSSOP
SN74SSTU32864DZKER	Texas Instruments	IC 25BIT CONFIG Regulators BUFF 96-BGA	устарелый	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74SSTV32852GKFR	Texas Instruments	IC BUFFER 24BIT-48BIT 114LFBGA	в производстве	Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR	2.3 V ~ 2.7 V	24, 48	-40°C ~ 85°C (TA)	SMD Поверхностный монтаж	114-LFBGA	114-BGA MICROSTAR (16x5.5)
SN74LVT8986PM	Texas Instruments	IC LINK ADDRSS SCAN-PORT 64-LQFP	в производстве	Linking Addressable Scan Ports	2.7 V ~ 3.6 V	-	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74ABT8543DW	Texas Instruments	IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC	в производстве	Scan Test Device with Registered Bus Transceiver	4.5 V ~ 5.5 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)	28-SOIC
SN74ABT18640DL	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP	в производстве	Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	56-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)	56-SSOP
SN74ABT8652DL	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP	в производстве	Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers	4.5 V ~ 5.5 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)	28-SSOP
SN74LVT8980AIDWREP	Texas Instruments	IC EMBEDDED TEST BUS CTRL 24SOIC	в производстве	Embedded Test-Bus Controllers	2.7 V ~ 3.6 V	8	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)	24-SOIC
SN74ABTE16246DL	Texas Instruments	IC 11-BIT I-WS BUS TXRX 48-SSOP	в производстве	Incident-Wave Switching Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	11	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	48-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)	48-SSOP
SN74SSTU32864CZKER	Texas Instruments	IC 25BIT CONFIG Regulators BUFF 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
SN74LVT8996IPWREP	Texas Instruments	IC 10B ADDRSBL SCAN PORT 24TSSOP	в производстве	Addressable Scan Ports	2.7 V ~ 3.6 V	10	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	24-TSSOP (0.173", 4.40mm Width)	24-TSSOP
74SSTUB32868ZRHR	Texas Instruments	IC CONFIG Regulators BUFF 28BIT 176-BGA	в производстве	1:2 Configurable Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	28	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	176-BGA	176-NFBGA (6x15)
SN74SSTU32864ZKER	Texas Instruments	IC 25BIT CONFIG Regulators BUFF 96-BGA	в производстве	1:1, 1:2 Configurable Registered Buffer	1.7 V ~ 1.9 V	25, 14	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	96-LFBGA	96-PBGA MICROSTAR (13.6x5.6)
74SSTUB32865AZJBR	Texas Instruments	IC REGSTR BUFF 28-56BIT 160NFBGA	в производстве	1:2 Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	28	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	160-TFBGA	160-NFBGA (9x13)
74SSTUB32868AZRHR	Texas Instruments	IC REGSTR BUFFER 28-56BIT 176BGA	в производстве	1:2 Configurable Registered Buffer with Parity	1.7 V ~ 1.9 V	28	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	176-BGA	176-NFBGA (6x15)
74SSTVF32852ZKFR	Texas Instruments	IC RGSTRD BUFF 24-48BIT 114BGA	в производстве	Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR	2.3 V ~ 2.7 V	24, 48	0°C ~ 70°C	SMD Поверхностный монтаж	114-LFBGA	114-BGA MICROSTAR (16x5.5)
SN74ABT18504PM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP	в производстве	Scan Test Device with Universal Bus Transceivers	4.5 V ~ 5.5 V	20	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH18646APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH182652APM	Texas Instruments	IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74LVTH18652APM	Texas Instruments	IC TXRX/Regulators 18BIT 3.3V 64-LQFP	в производстве	ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers	2.7 V ~ 3.6 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
ISL55100BIRZ	Renesas Electronics America Inc.	IC COMP DRVR/WINDOW 18V 72-QFN	в производстве	Comparator, Driver	9 V ~ 18 V	4	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	72-VFQFN Exposed Pad	72-QFN (10x10)
SN74ABTH18646APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP	в производстве	Scan Test Device With Transceivers And Registers	4.5 V ~ 5.5 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)
SN74ABTH18652APM	Texas Instruments	IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP	в производстве	Scan Test Device With Transceivers And Registers	4.5 V ~ 5.5 V	18	-40°C ~ 85°C	SMD Поверхностный монтаж	64-LQFP	64-LQFP (10x10)

Производители для Логика - специальная логика